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产品简介
薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film
| 适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等 光谱范围：300~1700nm 电池结构：单结、多结太阳电池 可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、 透射率、内量子效率、短路电流密度 可测样品面积：300mm×300mm | ||
| ● 集成一体化turnkey系统 ● 大面积薄膜电池测试专用 ● 超大样品室，光纤传导 ● 背面电极快速连接 ● 反射率、内外量子效率同步测试 ● 快速高效售后服务 |
SCS10-Film系统规格
光源 | 150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导 |
测试光斑尺寸 | 2mm~10mm可调 |
单色仪 | 三光栅DSP扫描单色仪 |
波长范围 | 300nm~1700nm |
波长准确度 | ±0.2nm（@1200g/mm，500nm) |
扫描间隔 | *小可达0.1nm，默认设置10nm |
输出波长带宽 | 0.1nm~10nm可调，默认设置5nm |
多级光谱滤除装置 | 根据波长自动切换，消除多级光谱的影响 |
光调制频率 | 4~400Hz |
标准探测器 | 进口Si光电探测器，含校正测试报告 |
数据采集装置灵敏度 | 直流模式：100nA；交流模式：2nV |
测量重复精度 | <0.6%( 400~1000nm范围<0.3%) |
测量速度 | 单次光谱响应扫描<1min;完整流程扫描<5min(扫描间隔10nm） |
样品加持 | 探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制 |
*Mapping扫描 | 速度：20点/s（@0.5mm step） 分辨率：0.5mm |
仪器尺寸 | 主机：；样品室： 控制机柜：800mm×600mm×1300mm |
计算机及软件 | 系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘， 正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘 |
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